EP 10.1.2 Mcroscopie en champ proche et caractérisa S0M2 NTE

EP 10.1.2 Microscopie en champ proche et caractérisation des propriétés physico-chimiques de surface (18h) (5CM, 4TD, 9TP)
Contenu :
Principes de base de microscopie en champ proche (STM/AFM), modes AFM : contact, non contact et semi contact, modes d’imagerie de différentes propriétés physico-chimiques de surface, techniques « simple pass » et « double pass », pratique de la microscopie en champ proche, résolution et limitation de la technique, acquisition d’images